SEC的RAY相關技術處于行業前沿,本次在展會現場展示的X-eye SF160 F/N Series是SEC推出的新品,主要用于半導體,電子產品,封裝等產品精密分析用非破壞性檢測設備,最大可實現550 x 650mm尺寸的產品不良檢測。
該產品搭載高性能Micro-focus Open Tube (160kV)的高性能檢測設備,可實現高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。用戶可根據需求選擇Dual CT功能(Oblique CT,Cone-beam CT)進行3D影像檢測,分析出不良的種類、位置及大小。此外,該產品可搭載Option自動檢測S/W,通過手動裝料后的自動檢測,可實現產品全檢;還可搭載長壽命Filament,適用于量產檢測。
不斷挑戰 不斷突破
SEC意為“Superior Service & Exciting Challenge”,公司在各個方面為用戶提供高質量的服務,并為滿足用戶的需求而不斷進行改進和挑戰。隨著科技的不斷進步和市場的日益擴大,高精密電子工業檢測設備的需求也在不斷增加。SEC將繼續發揮其在研發和生產方面的優勢,為全球用戶帶來更多驚喜和突破。